电子产品的靠得住性试验步骤有多种，下面介绍几种常用的步骤
。 

    *种步骤是“试验——问题纪录——再试验”模式
。该步骤就是把初步研造的产品，通过试验发现问题时，不是立即进行改进，而是把问题纪录下来，待在一个试验阶段实现以及下一个阶段起头之前，凭据各类失效模式的失效机理，集中地进行改进，而后再进行试验
。选取这种试验法，产品靠得住性将有较大的跃进
。这种试验法，比力合用于一批试验机中，出现几个问题，其中一种问题是占重要职位而其余问题是次要的情况
。 

    第二种步骤是“试验——改进——再试验”模式
。该步骤就是把初步研造的产品，通过试验，露出产品的幽微环节，分析产品的失效模式和失效机理，找出问题就立即改进，而后再试验证实所解决的问题，使产品的靠得住性得到增长
。这种步骤在电子产品的研造阶段，通过系统试验，露出出产品幽微环节之后，凭据具体情况，立即进行必要的改进是可能使产品的靠得住性有大幅度的增长，这种步骤比力合用于试验中只出现一种比力普遍和严沉问题的情况，针对性较强
。 

    第三种步骤是“含延缓改进的试验——改进——再试验”模式
。该步骤是将步骤一和步骤二结合起来，通过试验发现了产品的问题，有些改进在试验中了产品的问题，有些改进在试验中立即着手进行，有些延缓到试验实现后再作改进
。在试验中，对能实时改进的问题，立即采取措施改进产品，提高靠得住性，在试验阶段实现后，把延缓的问题至下次试验起头前进行改进，而后再进行试验，使产品的靠得住性得到较大的增长
。这种步骤比力适合于试验中出现几种问题，并且一些问题能短期容易改进的，另一些问题却必要相当一段功夫能力改进的综合情况
。 

    对于以上所述的三种步骤，电子产品在研造阶段中，经过系统的试验，要凭据露出出的问题作具体分析，矫捷利用

？康米⌒允匝橹谐Ｓ玫娜植街柰侵芏词嫉匮，并且一个循环比一个循环产品的靠得住性水平向上增长，另表靠得住性试验除通过系统试验表，还应凭据具体情况通过气象环境试验、机械环境试验和报答正常使用等各方面的试验来露出产品出产的幽微环节，进行综合的科学分析，做相应的改进，使得电子产品在设计研造阶段对其固有靠得住性有进一步的提高
。 

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